SediGraph III PLUS全自動X光沉降粒度分(fēn)析儀粒度粒形美國(guó)麥克Micromeri..蘭州千美科(kē)學(xué)分(fēn)析儀器有(yǒu)限公(gōng)司.官方網站

久經考驗的技(jì )術和可(kě)靠性

在過去的四十多(duō)年中(zhōng)，美國(guó)麥克儀器公(gōng)司的SediGraph是全世界許多(duō)實驗室粒度分(fēn)析的标準儀器。無論是在惡劣的生産(chǎn)環境還是在專業的化驗室，SediGraph憑借其卓越的可(kě)靠性得出精(jīng)确的測量結果。粒徑分(fēn)布的測量采用(yòng)沉降法，顆粒通過直接吸收X射線(xiàn)而被測量。根據Stockes定律，通過測量粒子在液體(tǐ)中(zhōng)的沉降速率，得出粒子粒徑大小(xiǎo)，粒徑分(fēn)析範圍為(wèi)0.1~300μm。

智能(néng)設計特色

SediGraph III Plus 粒度分(fēn)析儀先進的設計确保了測量的重複性和使用(yòng)的便利性。使得儀器操作(zuò)更加容易，日常維護更加簡單。并且能(néng)夠确保對同一樣品，在任意一台SediGraph儀器上都能(néng)獲得重複性極高的結果。

• 高精(jīng)度X光管終身保修（7年）

• 簡化泵系統，确保快速分(fēn)析和易于維護

• 降低噪聲，提供更加安(ān)靜的工(gōng)作(zuò)環境

• 維護提醒裝(zhuāng)置，根據總測試量，提示用(yòng)戶進行定期維護

• 電(diàn)腦控制混合室溫度，提高測試可(kě)重複性

• Windows操作(zuò)軟件，以太網連接，可(kě)進行點擊式選擇菜單，聯網工(gōng)作(zuò)，打印機選擇，剪切和粘貼等操作(zuò)

• 多(duō)功能(néng)和交互式報告系統，能(néng)夠提供多(duō)種類型的報告，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為(wèi)單位）

多(duō)項功能(néng)

完整的顆粒分(fēn)析，能(néng)夠确保對樣品中(zhōng)的所有(yǒu)顆粒全部進行分(fēn)析，包括粒徑大于 300μm和小(xiǎo)于0.1μm的部分(fēn)
能(néng)夠與其他(tā)粒徑測得的數據相結合，使數據報告範圍可(kě)擴展至125,000μm (125mm)，在地質(zhì)學(xué)方面具(jù)有(yǒu)很(hěn)好的應用(yòng)
自下而上地掃描沉降室，能(néng)夠準确的獲取沉降顆粒的總數，同時最小(xiǎo)化顆粒分(fēn)離所需的時間
全自動操作(zuò)模式能(néng)夠增加分(fēn)析樣品總數，并且能(néng)夠減少人為(wèi)操作(zuò)步驟，以降低由人為(wèi)操作(zuò)造成的測量誤差
控溫分(fēn)析可(kě)确保在整個分(fēn)析過程中(zhōng)液體(tǐ)的性質(zhì)不發生任何變化，以獲取精(jīng)确的分(fēn)析結果
多(duō)種分(fēn)析速度，可(kě)根據實際需要選擇所需的速度和分(fēn)辨率

實時顯示，能(néng)夠監控當前分(fēn)析的累積質(zhì)量圖，以便根據需求立即修正分(fēn)析程序
統計過程控制（SPC）報告能(néng)夠跟蹤過程性能(néng)，便于立即對變化做出響應
多(duō)圖疊加功能(néng)，能(néng)夠對分(fēn)析結果進行可(kě)視化比較，例如：與參考樣品或基線(xiàn)疊加，或者将同一分(fēn)析數據的兩種不同類型結果圖疊加
數據比較圖，能(néng)夠提供兩套數據組（不同于參考圖）圖形顯示的數學(xué)差或某個數據點高于/低于誤差範圍的程度（指定圖以外）
能(néng)夠使用(yòng)同一台計算機同時控制兩SediGraph，節約寶貴的實驗室空間，方便數據存儲